三维扫描是指集光、机、电和计算机技术于一体的高新技术，主要用于对物体空间外形和结构及色彩进行扫描，以获得物体表面的空间坐标。
它的重要意义在于能够将实物的立体信息转换为计算机能直接处理的数位讯号，为实物数位化提供了相当方便快捷的手段。三维扫描技术能实现非接触测量，且具有速度快、精度高的优点。而且其测量结果能直接与多种软体接口，这使它在CAD、CAM、CIMS等技术套用日益普及的今天很受欢迎。
在已开发国家的製造业中，三维扫瞄器作为一种快速的立体测量设备，因其测量速度快、精度高，非接触，使用方便等优点而得到越来越多的套用。用三维扫瞄器对手板，样品、模型进行扫描，可以得到其立体尺寸数据，这些数据能直接与CAD/CAM软体接口，在CAD系统中可以对数据进行调整、修补、再送到加工中心或快速成型设备上製造，可以极大的缩短产品製造周期。
基本介绍
- 中文名：三维扫瞄器
- 外文名：3DTHINK
- 经营範围：三维扫描、工业检测、逆向工程
- 软体系统：西博三维光学扫描系统
技术套用
三维扫描技术主要套用于以下几个方面:
1. 逆向工程实训室教学
逆向实训教学室
逆向实训教学室2. 逆向工程(RE)/快速成型(RP)
3. 扫描实物，建立CAD数据；或是扫描模型，建立用于检测部件表面的三维数据。
4. 对于不能使用三维CAD数据的部件，建立数据。
5. 竞争对手产品与自己产品的确认与比较，创建资料库。
6. 使用由RP创建的真实模型，建立和完善产品设计。
7. 有限元分析的数据捕捉。
8. 检测(CAT)/CAE
9. 生产线质量控制和产品元件的形状检测
例如：金属铸件和锻造、加工沖模和浇铸、塑胶部件(压塑模、滚塑模、注塑模)、钢板冲压、木製品、複合及泡沫产品。
10. 文物的录入和电子展示
11. 牙齿及畸齿矫正
12. 整容及上颌面手术
种类
拍照式
扫描範围可达：单面可扫描400×300mm 面积，测量景深一般为300-500mm。
精度最高可达：0.007mm
优点：扫描範围大、速度快，精细度高，扫描的点云杂点少，系统内置标誌点自动拼接并自动删除重複数据，操作简单，价格较低
关节臂式
扫描範围可达：4米。
精度最高可达：0.016mm。
优点：精度较高，测量範围理论上可达到无限。
三坐标(固定式)
扫描範围：为指定型号的工作檯面。
扫描精度最高可达：0.9um
优点： 精度较高，适合测量大尺寸物体，如整车框架。
缺点： 扫描速度慢，需要花费较长时间
雷射跟蹤式
扫描範围可达：70米。
扫描精度可达：0.003mm
优缺点：精度较高，测量範围大，可对如建筑物这类的大型物体，进行测量，价格较高。
雷射扫描式
扫描範围：比较低。
优点： 扫描速度快，便携，方便，适用于对精度要求不高的物体。
缺点：扫描精度较低。
测量原理
结构光扫瞄器原理
光学三维扫描系统是将光栅连续投射到物体表面，摄像头同步採集图像，然后对图像进行计算，并利用相位稳步极线实现两幅图像上的三维空间坐标（X、Y、Z），从而实现对物体表面三维轮廓的测量。
雷射扫瞄器原理
由于扫描法系以时间为计算基準，故又称为时间法。它是一种十分準确、快速且操作简单的仪器，且可装置于生产线上，形成边生产边检验的仪器。雷射扫瞄器的基本结构包含有雷射光源及扫描器、受光感 ( 检 ) 测器、控制单元等部分。雷射光源为密闭式，较不易受环境的影响，且容易形成光束，目前常採用低功率的可见光雷射，如氦氖雷射、半导体雷射等，而扫描器为旋转多面棱规或双面镜，当光束射入扫描器后，即快速转动使雷射光反射成一个扫描光束。光束扫描全程中，若有工件即挡住光线，因此可以测知直径大小。测量前，必须先用两支已知尺寸的量规作校正，然后所有测量尺寸若介于此两量规间，可以经电子信号处理后，即可得到待测尺寸。因此，又称为雷射测规。
三坐标原理
三坐标测量机是由三个互相垂直的运动轴X，Y，Z建立起的一个直角坐标系，测头的一切运动都在这个坐标系中进行，测头的运动轨迹由测球中心来表示。测量时，把被测零件凡放在工作檯上，测头与零件表面接触，三坐标测量机的检测系统可以随时给出测球中心点在坐标系中的精确位置。当测球沿着工件的几何型面移动时，就可以精确地的计算出被测工件的几何尺寸，现状和位置公差等。